教育背景：

2001-2005年

于湖南大学数学与计量经济学院

攻读大学本科

2005-2007年

于湖南大学数学与计量经济学院

攻读硕士学位

2007-2011年

于湖南大学信息工程学院

攻读计算机应用技术博士学位

集成电路设计与测试，硬件安全

目前研究领域：

集成电路设计与测试，硬件安全等

已完成或已在承担的主要课题：

1.主持：国家自然科学基金青年基金项目“基于线性解压器的测试压缩技术效率提升及功耗优化研究”（批准号：61303042）。

2.主研：国家自然科学基金面上基金项目“由被测电路自己产生测试向量的内建自测试技术研究”（批准号：60773207）。

3.参与：湖南省教育厅一般项目“文本隐藏信息检测理论与方法研究”（批准号：12C0011）。

4.参与：湖南省教育厅重点项目“能量受限的视频编码理论与方法研究”（批准号：13A107）。

[1]WeizhengWang,CaiShuo,LingyunXiang.SOCTestCompressionSchemeSharingFreeVariablesinEmbeddedDeterministicTestenvironment,JournalofSemiconductorTechnologyandScience,accepted,2015.(SCIandEI)

[2]WeizhengWang,CaiShuo,LingyunXiang.ScanPower-AwareDeterministicTestSchemeUsingaLow-TransitionLinearDecompressor.InternationalJournalofElectronics,Vol.102,No.4,pp:651-667,2015(SCI)

[3]WeizhengWang,CaiShuo,LingyunXiang.ReducingTestPowerandImprovingTestEffectivenessforLogicBIST,JournalofSemiconductorTechnologyandScience,Vol.14,No.5,pp:640-648,2014.(SCI)

[4]WeizhengWang,LiuPeng,CaiShuo,LingyunXiang.LowpowerlogicBISTwithhightesteffectiveness.IEICEElectronicsExpress,Vol.10,No.23,pp:1-6,2013.(SCI)

[5]WeizhengWang,JishunKuang,LiuPeng,XinPeng,ZhiqiangYou.Switchingactivityreductionforscan-basedBISTusingweightedscaninputdata.IEICEElectronicsExpress,Vol.9,No.10,pp:874-880,2012.(SCI)

[6]WeizhengWang,JishunKuang,ZhiqiangYou.Achievinglowcaptureandshiftpowerinlineardecompressor-basedtestcompressionenvironment,MicroelectronicsJournal,Vol.43,No.1,pp:143-140,2012.(SCI)

[7]王伟征,邝继顺,尤志强,刘鹏.一种基于扫描子链轮流扫描捕获的低费用BIST方法,计算机研究与发展,第49卷,第4期,864-872页,2012.(EI)

[8]WeizhengWang,JishunKuang,ZhiqiangYou,LiuPeng.ReducingTest-DataVolumeandTest-PowerSimultaneouslyinLFSRReseeding-basedCompressionEnvironment,Journalofsemiconductors,Vol.32,No.7,pp:075009(1)-075009(7),2011.(EI)

[9]WeizhengWang,JishunKuang,ZhiqiangYou.LowPowerCompressioninlineardecompressor-basedtestcompressionenvironment.InternationalReviewonComputersandSoftware,Vol.6,No.4,pp:550-554,2011.(EI)

[10]ZhiqiangYou,WeizhengWang,ZhipingDou,LiuPeng,JishunKuang.AScanDisabling-BasedBASTSchemeforTestCostReduction.IEICEElectronicsExpress,Vol.8,No.16,pp:1367-1373,2011.(SCI)

[11]ZhiqiangYou,WeizhengWang,LiuPeng,JishunKuang,ZhengQin.AScanDisabling-BasedBASTSchemeforTestCostandTestPowerReduction.IEICEElectronicsExpress,Vol.9,No.2,pp:111-116,2012.(SCI)

[12]张玲,王伟征,梅军进,缪贤浩.代表扫描—一种低功耗可测试性设计结构，第八届中国测试学术会议,pp:241-246,2014.

[13]邝继顺,靳立运,王伟征,尤志强.减少自反馈测试硬件代价的两种方法.计算机研究与发展,第49卷,第4期,880-886页,2012.(EI)

[14]蔡烁，邝继顺，刘铁桥，王伟征．考虑信号相关性的逻辑电路可靠度计算方法．电子学报,第42卷,第8期,pp:1660-1664,2014．（一级期刊）

[15]LingyunXiang,YuhuaXie,GangLuo,WeizhengWang.OntheExistenceofSubliminalChannelinInstantMessagingSystems.InternationalJournalofSecurityandItsApplications，Vol.9,No.2,pp:1-10,2015.(EI)

[16]蔡烁，杨致远，刘铁桥，王伟征．针对扫描阻塞结构的测试数据压缩方案．计算机应用研究，2012，29（4）：1378-1380．（CSCD）

[17]蔡烁、邝继顺、张亮、刘铁桥、王伟征.基于差错传播概率矩阵的时序电路软错误可靠性评估，计算机学报,已接收.（一级期刊）

以上为发表的部分学术论文