邱于兵
教授
所属大学: 华中科技大学
所属学院: 化学与化工学院
个人简介
教育经历 1986.9 - 1990.7:华中理工大学,应用化学专业,本科毕业,获理学学士学位。 1990.9 - 1993.5:华南理工大学(此处原 “华工理工大学” 应为华南理工大学 ),研究生毕业,获硕士学位。 1996.9 - 2001.6:华中科技大学,研究生毕业,获工学博士学位。 工作经历 2003.7 - 2009.1:华中科技大学化学与化工学院,担任副教授。 2009.2 - 2010.10:日本东北大学大学院工学研究科 FRI 研究所,担任研究员。 2010.11 - 2015.10:华中科技大学化学与化工学院,担任副教授。 2015.11 - 至今:华中科技大学化学与化工学院,担任教授。
研究领域
主要研究方向 (1)腐蚀电化学:腐蚀电化学原理与监测技术理论、方法研究; (2)油气田环境中材料腐蚀机理、防护技术研究; (3)自然环境(土壤)中材料的腐蚀行为、机理与寿命预测研究; (4)电化学保护技术:传统直流与脉冲电流阴极保护技术研究; (5)电化学污水处理技术研究; 最近几年研究重点: (1)导电聚吡咯腐蚀失效过程中的电化学机制及其动力学行为; (2)金属/金属氧化物pH电极; (3)电化学噪声数据分析方法。 (4)油田三次采油含聚合物污水的电化学处理方法、机理;
近期论文
[1][20] J. Y. Huang, Y. B. Qiu* and X. P. Guo. Analysis of electrochemical noise of X70 steel in Ku’erle soil by cluster analysis. Materials and Corrosion, 2009, 60 (7): 527-535. . [2][19] Y. L. Zhu, X. P. Guo and Y. B. Qiu*. Inhibition mechanism of sodium laurate to underdeposit corrosion of carbon steels in NaCl solutions. Corrosion Engineering, Science and Technology, 2010, 45(6): 442-448.. [3][18] Huang, J. Y., Qiu, Y. B.* and Guo, X. P.. Comparison of polynomial fitting and wavelet transform to remove drift in electrochemical noise analysis. Corrosion Engineering, Science and Technology, 2010, 45 (4): 288-294.. [4][17] Yubing Qiu, Tetsuo Shoji, Zhanpeng Lu. Effect of dissolved hydrogen on the electrochemical behavior of Alloy 600 in simulated PWR primary water at 290oC. Corros. Sci., 2011,53 (5): 1983-1989.. [5][16] 胡海,邱于兵*,李强,李海川,郭兴蓬. 脉冲电絮凝处理三次采油污水研究. 环境科学与技术,2012,35(2):173-177。. [6][15] Kai Qi, Yubing Qiu*, Zhenyu Chen, Xingpeng Guo*. Corrosion of Conductive Polypyrrole: Effects of Environmental Factors, Electrochemical Stimulation and Doping Anions. Corrosion Science, 2012, 60:50-58.. [7][14] Kai Qi, Yubing Qiu*, Zhenyu Chen, Xingpeng Guo*. Corrosion of Conductive Polypyrrole: Effects of continuous cathodic and anodic polarisation. Corrosion Science, 2013, 69:376-388.. [8][13] Hualiang Huang*, Zhiquan Pan, Yubing Qiu*, Xingpeng Guo. Electrochemical corrosion behaviour of copper under periodic wet-dry cycle condition. Microelectronics Reliability, 2013, 53: 1149–1158. .