个人简介
教育经历 1978 年 9 月 - 1982 年 7 月,就读于华中工学院,专业为高电压技术及设备,获得工学学士学位,本科毕业。研究方向为 5400kV 冲击电压发生器调波研究。 1988 年 8 月 - 1991 年 8 月,在华中理工大学攻读研究生,专业为高电压与绝缘技术,获得工学硕士学位,研究生(硕士)毕业。研究方向为离子背景对先导放电路径的选择研究。 1997 年 9 月 - 2001 年 6 月,于华中科技大学深造,专业为高电压与绝缘技术,获得工学博士学位,研究生(博士)毕业。研究方向为纳秒脉冲放电及应用研究、500kV 光纤互感器研究、脉冲放电废气废水处理研究。 工作经历 1982 年 7 月 - 1991 年 12 月,任职于水电部武汉高压研究所,先后在计量室、线路室、高压大厅工作,从助理工程师晋升为工程师,主要从事科研工作。 1991 年 12 月 - 2001 年 12 月,在广东省顺德市德胜电厂有限公司工作,于筹建指挥部、总工室任职,从工程师晋升为高级工程师,负责电厂筹建工程技术及其运行技术工作。 2001 年 12 月 - 2006 年 6 月,在华中科技大学环境科学与工程学院,从副教授晋升为教授(博导),主要承担教学与科研工作。 2006 年 6 月 - 至今,在华中科技大学电气与电子工程学院、中欧清洁与可再生能源学院担任教授(博导),从事教学与科研工作。 2009 年 7 月 - 2009 年 8 月,作为访问教授,在加拿大麦克马斯特大学(McMaster University)工程物理系(Dept. Eng. Phys.)进行访问,研究方向为放电等离子体工程应用。
研究领域
输变电设备绝缘技术,多相体放电与应用,脉冲功率技术,环境等离子体技术,高电压新技术
近期论文
[1] Lu Zhu, Zheng-Hao He, Pei Li, Tai-Sheng Xu, Huan Zhao, Xiao-Fei Zhang, Zhi-Wen Gao. The research on the pulsed arc electrohydraulic discharge and its application in treatment of the ballast water[J]. Journal of Electrostatics, 2013, 71: 728-733. [2] Hao Wu, Zhenghao He, Lei Wang, Zhaoliang Zhang, Runkai Guo, and Jun Ma. Effect of the Trigger Circuit on Delay Characteristics of a Triggered Vacuum Switch With a Six-Gap Rod Electrode System[J]. IEEE Transactions on Plasma Science, 2011, 39(1): 335-341. [3] Lu Zhu, Zheng-Hao He, Zhi-Wen Gao, Fa-Li Tan, Xin-Gui Yue, Jen-Shih Chang. Research on the influence of conductivity to pulsed arc electrohydraulic discharge in water[J], Journal of Electrostatics, 2014, 72: 53-58. [4] Heming Deng, Zhenghao He, Yuhang Xu, Jun Ma, Junxiang Liu and Runkai Guo . An investigation on two-phase mixture discharges: the effects of macroparticle sizes[J]. J. Phys. D: Appl. Phys. 2010, 43(25): 225203.1–225203.11.. [5] Yinan Xin, Zhenghao He, and Yuchen Liu. The effect of laser wavelength on the delay time of laser triggered vacuum switch. Review of Scientific Instruments[J], 2017, 88: 114706.1-114706.7. [6] Wenfang Fan, Zhenghao He, and Xiaopo Mao. Design and investigation of a multichannel laser-triggered vacuum switch[J]. Review of Scientific Instruments[J], 2016, 87: 035115.1-035115.6.